Mishraim Sanchez Torres

Mishraim Sanchez Torres
Cuando un objeto áspero es iluminado por una fuente de luz coherente, la luz esparcida produce un efecto de moteado, el patrón de moteado producido puede emplearse como una prueba no destructiva para detectar y medir deformaciones en la superficie de piezas. Se describe un sistema de Interferometría Electrónica de Patrones de Moteado (con siglas IEPM) para la detección de deformaciones utilizando una cámara o dispositivo de carga acoplada (del inglés: charge coupled device , CCD) como medio de registro, este sistema procesa imágenes en tiempo real para obtener información sobre lo ocurrido en el objeto cuando este está bajo la acción de una carga mecánica. De este modo, la imagen de franjas que aparece por la superposición de dos frentes de onda provenientes del objeto bajo estudio, antes y después de su deformación, se registra digitalmente. Como resultado la técnica IEPM se implementa a distancia y los objetos sometidos a diferentes condiciones de carga no necesitan estar en contacto con esta. En diversos campos, tales como el automotriz, el aeroespacial, la electrónica y hasta en control de calidad, se necesitan pruebas no destructivas que cumplan con requisitos de sustentabilidad para el estudio de las propiedades de materiales, que permite analizar la evolución de micro fracturas hasta el análisis del comportamiento dinámico de una gran variedad de componentes industriales con el fin de detectar o predecir fallas. El presente trabajo presenta una prueba no destructiva alterna con respecto a la prueba de líquidos penetrantes, se describe teóricamente la técnica de moteado a utilizar y algunos resultados que se desean obtener.